EJ/T 1184-2005 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
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基本信息
| 标准名称： | 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定 |
| 英文名称： | Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method |
| 中标分类： | 能源、核技术 >> 核材料、核燃料 >> 核材料、核燃料及其分析试验方法 |
| ICS分类： | 能源和热传导工程 >> 核能工程 >> 裂变物质 |
| 发布日期： | 2005-04-11 |
| 实施日期： | 2005-07-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 5页 |
适用范围
本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定，其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。当取样量为0.25g四氟化铀时，硅的测定范围为：（10～120）μg/g。在测量范围内，40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 能源 核技术 核材料 核燃料 核材料 核燃料及其分析试验方法 能源和热传导工程 核能工程 裂变物质
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