GB 5095.1-1985 电子设备用机电件基本试验规程及测量方法 第一部分:总则
作者:标准资料网 时间:2024-05-06 04:36:08 浏览:8154
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 电子设备用机电件基本试验规程及测量方法 第一部分:总则 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
电子元件 >>
电子元件综合 |
| 替代情况： | 被 GB/T 5095.1-1997代替 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1985-11-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 7页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 电子元件综合
【英文标准名称】:InvoluteSplinesandInspectionStandard
【原文标准名称】:渐开线花键及检验标准
【标准号】:ANSIB92.1,1A-1996
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1996-07-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:渐开线花键;花键;内花键;检验
【英文主题词】:splines;internalsplines;involutesplines;inspection
【摘要】:
【中国标准分类号】:J18
【国际标准分类号】:21_120_10
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:TestMethodsforLeaksUsingtheMassSpectrometerLeakDetectororResidualGasAnalyzerintheTracerProbeMode
【原文标准名称】:在示踪探针法中用质谱仪检漏器或残余气体分析器作泄漏检验的测试方法
【标准号】:ASTME498-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:无损检验;示踪法;质谱仪;不渗透性;泄漏;试验;检漏器
【英文主题词】:leakdetectors;impermeability;massspectrometers;non-destructivetesting;leaks;tracermethods;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:77_040_00;19_100
【页数】:
【正文语种】:英语
